儀器簡介
開爾文探針系統技術參數
2毫米，50微米探針；功函式解析度1-3meV(2毫米針尖)，5-10meV(50微米針尖)；
針尖到樣品表面距離可以達到400納米以內；
功函式或表面勢、樣品形貌3維地圖繪製；
探針掃描或樣品掃描選配；
彩色相機、調焦鏡頭、TFT顯示器和專業的光學固定裝置(NewPort)；
參考樣品(帶相應的掃描開爾文探針系統的3D數據)；
備用的針尖放大器；
24個月超長質保期；
典型套用
儀器外觀主要特點
（1）全球第一台商用的完全意義上的開爾文探針系統；（2）最高解析度的功函式和表面勢，最好的穩定性和數據重現性；
（3）非零專利技術(Off-null,ON)——ON信號探測系統在高信號水平下工作，與基於零信號原理(null-based,LIA)的系統相比，不會收到噪聲的影響擁有高靈敏度；
（4）高度調節專利技術——我們的儀器在測量和掃描時可以精確控制針尖的高度。因為功函式受樣品形貌的影響，針尖與樣品表面距離的調節意味著數據的高重現性且不會漂移；
（5）該領域內，擁有最好信噪比的開爾文探針；
（6）快速回響時間——測量速度在0.1-10秒間，遠快於其他公司產品；
（7）功能強的驅動器——我們選用Voice-coil(VC)驅動器，與通常的壓電驅動器相比，VC驅動器頻率要穩定得多、控制的針尖振幅大得多、支持平行多探針操作、支持不同直徑探針操作；
（8）所有開爾文探針參數的全數字控制。
物性測試儀器
| 物性測試儀器主要測量物體各種特性的儀器，物體的粘度、顆粒度，強度、硬度、色度、張力等儀器設備。用途：使用於實驗室及各種試驗場所，對物體或產品耐受性測試、特性測試。 |
