雅滿干涉儀

雅滿干涉儀

雅滿干涉儀是J.雅滿於1856年發明的。

雅滿干涉儀.[詞典]Jaminintreferometer

正文

這種干涉儀是J.雅滿於1856年發明的。雅滿用他的干涉儀研究了水的折射率隨壓力的變化關係,並用它來測定水蒸氣的折射率。後人多用它來測量氣體的折射率。
雅滿干涉儀基本上由兩塊折射率和厚度都完全相同的平行平面玻璃板組成,每一塊板都有一個鍍銀面,其結構如圖所示。
雅滿干涉儀雅滿干涉儀
自擴展光源發出的一束光,以45°入射角入射在第一塊板M1的前表面上,在這裡它被分為兩部分,一部分在M1板的前表面和在第二塊板M2的後表面上反射;另一部分在M1板的前表面上折射後,再依次在M1板的後表面和M2板的前表面上反射。因為兩束光是相干的,它們在離開M2板的前表面後,會於望遠鏡的焦平面上形成干涉條紋。
玻璃板M1和M2的厚度一般為2~5厘米,經過它們的兩束光可分得比較開。這樣就可在它們之間放置所需的氣體室G1和G2。而氣體室兩端視窗又有光闌的作用,只能使在玻璃板上一次內反射的光產生干涉,因此條紋中的光強分布呈嚴格的餘弦二次方形式。亮條紋和暗條紋等寬。
使用時,以其表面與圖面(見圖)的交線為軸將M2板轉動一很小的角度,這時就會產生平行於圖面的干涉條紋,當使用白光光源時在這種位置上還可觀察到白光干涉條紋。
將兩氣體室中的一個逐漸抽空,干涉條紋會在視場中移動。設氣體室的長度為l,折射率的改變為δn,則

雅滿干涉儀

式中k是視場中移過叉絲的干涉條紋的數目,λ是光波波長。用這種方法就可測量出折射率的變化或氣體的折射率,而且精度較高。

配圖

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