華中科技大學分析測試中心

華中科技大學分析測試中心成立於2004年，是分析測試技術、方法的研發中心，同時還是培養高層次人才的重要實驗基地。中心設備配套齊全，目前擁有全部進口大型分析測試儀器設備幾十台, 總價值3000萬人民幣。中心占地1500多平方米，基礎配套設施齊全，有良好的工作條件。

簡介

華中科技大學分析測試中心成立於2004年，是為華中科技大學的教學與科研活動提供分析測試服務的公共大平台，也是分析測試技術、方法的研發中心，同時還是培養高層次人才的重要實驗基地。同時它面向社會開放，積極為地方的科研、經濟建設服務。中心將成為一個具備向校內外科學研究、品質鑑定、失效分析、案例判斷等提供公正、權威測試能力的重要機構。

華中科技大學分析測試中心

分析測試中心的分析測試技術力量較雄厚。 中心現有正式人員10人，契約制人員2人以及學生助管人員。其中：教授/博導1人，副高3人, 中級職稱6人，博士學位2人，碩士學位4人。中心設備配套齊全，目前擁有全部進口大型分析測試儀器設備幾十台, 總價值3000萬人民幣。中心占地1500多平方米，基礎配套設施齊全，有良好的工作條件。主要測試設備有：透射電子顯微鏡（含能譜）；場發射掃描電鏡（含能譜、電子背散射衍射分析系統和STEM探頭）；環境掃描電鏡（配有冷、熱台附屬檔案及能譜分析）；X射線衍射儀（配有冷、熱台附屬檔案）；X射線螢光探針；核磁共振波譜儀；園二色光譜儀；螢光光譜儀；傅立葉變換顯微紅外/拉曼光譜聯用儀；微波萃取/肖解系統；二維液相色譜－離子阱質譜聯用儀等。同時還配備了刻蝕噴鍍儀、離子減薄儀、超薄切片機等各類高級制樣設備。

機構設定

華中科技大學分析測試中心外部組織機構圖

測試項目

檢測項目和範圍	檢測儀器	檢測依據	備註
微區形貌分析	FEI-Quanta 200環境掃描電子顯微鏡 FEI-Sirion 200場發射掃描電子顯微鏡 FEI-Tecnai G200透射電子顯微鏡	JY/T 010-1996 分析型掃描電子顯微鏡方法通則 JY/T 011-1996 透射電子顯微鏡方法通則	FEI-Quanta 200環境掃描電子顯微鏡有冷台、熱台
微區結構分析	FEI-Tecnai G200透射電子顯微鏡 X’Pert Pro X射線衍射儀	JY/T 011-1996 透射電子顯微鏡方法通則 JY/T 009-1996 轉靶多晶體X射線衍射方法通則
微區成份分析 （Na11-U92）	FEI-Quanta 200環境掃描電子顯微鏡 FEI-Sirion 200場發射掃描電子顯微鏡 FEI-Tecnai G200透射電子顯微鏡	JY/T 010-1996 分析型掃描電子顯微鏡方法通則 JY/T 009-1996 轉靶多晶體X射線衍射方法通則	FEI-Sirion 200場發射掃描電子顯微鏡配有電子背散射衍射分析系統OIM / EBSP
生物表面形貌（態）內部結構及原位成分分析（Na11-U92）	FEI-Quanta 200環境掃描電子顯微鏡 FEI-Sirion 200場發射掃描電子顯微鏡 FEI-Tecnai G200透射電子顯微鏡	JY/T 010-1996 分析型掃描電子顯微鏡方法通則 JY/T 011-1996 透射電子顯微鏡方法通則
元素定性分析 （Na11—U92）	FEI-Quanta 200環境掃描電子顯微鏡 FEI-Sirion 200場發射掃描電子顯微鏡 FEI-Tecnai G200透射電子顯微鏡	JY/T 010-1996 分析型掃描電子顯微鏡方法通則 JY/T 011-1996 透射電子顯微鏡方法通則
相結構分析 殘餘應力測試 物相定量分析 點陣常數測定 晶格常數測定	X’Pert Pro X射線衍射儀	JY/T 009-1996 轉靶多晶體X射線衍射方法通則 GB 8360-87 金屬點陣常數的測定方法，X射線衍射法	X’Pert Pro X射線衍射儀有冷、熱台，可進行相變和熱分析
測試樣品製備	gatan公司的刻蝕噴鍍儀、離子減薄儀、德國萊卡的超薄切片機、組織脫水機、染色機、修塊機和美國BUEHLER公司的拋磨機、鑲樣機、精密切割機等

學術委員會

主 任：謝長生
副主任：宋武林 朱麗華
委 員：楊祥良 徐明厚 龔躍法 李箭 于軍 呂文中