斷層微量位移測量

斷層微量位移測量（micrometric ation t，micrometric

斷層微量位移測量（micrometric determination of fault displacement，micrometric measurement of fault displacement）是測量斷層兩盤現代微小相對水平位移和垂直升降的方法。測量的方法有銦鋼尺基線測量、精密水準測量、高精度三角測量、雷射測距、電阻絲鋼弦測距，連通管測量、石英伸縮儀和地傾斜測量等。野外分為固定觀測（站）和流動觀測（點）兩種。測量前需審慎選擇測點，一般在活動性斷層的關鍵部位進行，橫跨斷裂兩盤埋設永久性固定標石。測量結果需計算誤差值，並結合地質構造進行分析，注意排除各種非構造因素的影響。1963年地質力學研究所用電阻應變原理和水管連通器研製出斷層微量位移測量裝置。並且首先在廣東省新豐江水庫震區進行實地觀測。爾後，逐漸得到普遍套用。它不僅可探索構造體系活動規律，還可用於監視發震斷層活動和工程基地選擇。