電晶體電參數測量:電晶體電參數測量是電晶體電參數包括直流參數、器件參數、 -百科知識中文網

電晶體電參數測量

測量電晶體直流參數的直觀方法是使用電晶體特性曲線圖示儀。在被測器件的輸入端注入一個階梯掃描電流,在輸出端就可以看到輸出電流-電壓關係曲線。圖1為共發射極輸出特性曲線，根據這一曲線可以近似求出擊穿電壓

、電流放大係數

和飽和壓降

。

表征頻率特性的最常用參數是特徵頻率fT。圖2是│ 電晶體電參數測量

│隨頻率的變化關係,當測量頻率f0＞(3～5) 電晶體電參數測量

時(圖中斜線的區域),滿足fT=| 電晶體電參數測量

|·f0為一常數。式中| 電晶體電參數測量

|是共發射極輸出短路時的電流放大係數的模值; 電晶體電參數測量

是共發射極電流放大係數截止頻率。這個關係使測量頻率可選取在遠低於fT的頻率上。測量fT的系統框圖如圖2b。還可以將被測電晶體作為二連線埠網路，用網路分析儀來測量電晶體的S參數。

電晶體電參數的測量逐漸實現自動化，從直流到高頻範圍的測量已基本上達到自動分選。微波參數（例如噪聲係數）的測量可通過配有微型計算機的系統在幾秒鐘內得出結果，甚至能掃描測出噪聲係數的頻率特性。