內容簡介
譚劍波、尤路、黃新、張卿、孫大成等編著的這本《邊界掃描測試技術》出版之前已作為學習資料在三十八所內部進行過多次技術交流，適合作為測試與故障檢測技術方面的教材，也可作為廣大測試和電子工程技術人員的參考書。
全書共分十二章，內容包括：邊界掃描測試原理和測試方法；邊界掃描描述語言；邊界掃描測試算法；基於邊界掃描的可測試性設計；混合信號電路邊界掃描測試；系統級邊界掃描測試技術；高速數字網路邊界掃描測試；網路型邊界掃描測試控制器的設計等。
圖書目錄
第一章緒論1
1.1測試技術的發展1
1.1.1自動測試設備的出現1
1.1.2線上測試2
1.2邊界掃描技術的出現4
1.3邊界掃描技術的發展5
1.3.1IEEE1149.45
1.3.2IEEE1149.56
1.3.3IEEE1149.67
1.3.4IEEE1149.77
1.3.5IEEE15328
1.3.6標準套用情況8
1.4邊界掃描技術的套用9
1.4.1國外套用狀況9
1.4.2國內套用狀況10
第二章邊界掃描測試原理和測試方法11
2.1IEEE1149.111
2.2邊界掃描邏輯的基本結構11
2.2.1TAP控制器12
2.2.2指令暫存器15
2.2.3數據暫存器16
2.2.4邊界暫存器17
2.2.5邊界掃描測試邏輯的結構19
2.2.6現場可程式積體電路20
2.2.7邊界掃描鏈20
2.3邊界掃描測試指令集21
2.3.1非侵入式操作模式指令21
2.3.2侵入式操作模式23
2.4邊界掃描的測試類型和方法24
2.4.1邊界掃描測試的對象24
2.4.2基本的邊界掃描測試類型24
2.4.3邊界掃描測試系統的構建27
2.5邊界掃描的特點和未來的趨勢28
2.5.11149.1協定的可擴展性28
2.5.2邊界掃描測試構建成本28
2.5.3邊界掃描測試的優點29
2.5.4邊界掃描測試技術的發展趨勢29
2.5.5其他的測試標準29
2.6本章總結30
第三章邊界掃描描述語言31
3.1邊界掃描描述語言的背景31
3.2邊界掃描描述語言的適用範圍32
3.2.1測試32
3.2.2驗證33
3.2.3綜合34
3.3邊界掃描描述語言的結構35
3.4實體描述36
3.4.1類屬說明語句37
3.4.2邏輯連線埠描述37
3.4.3IEEE標準的引用38
3.4.4USE語句38
3.4.5器件使用的IEEE標準聲明38
3.4.6器件封裝管腳映射39
3.4.7連線埠組定義39
3.4.8TAP連線埠定義40
3.4.9限制管腳說明40
3.4.10指令暫存器描述41
3.4.11可選暫存器描述42
3.4.12暫存器訪問描述42
3.4.13邊界掃描暫存器描述43
3.4.14RUNBIST指令描述44
3.4.15INTEST指令描述45
3.4.16BSDL的用戶自定義擴展45
3.4.17安全提醒45
3.5BSDL語言的進一步探討45
3.5.1單元合併46
3.5.2非對稱性驅動器47
3.6關於74BCT8374的BSDL描述48
3.7包集合和包集合體50
3.7.1STD-1149-1-200150
3.8邊界掃描單元在BSDL語言中的定義55
3.8.1BC-1單元55
3.8.2BC-2單元56
3.8.3BC-3單元56
3.8.4BC-4單元57
3.8.5BC-5單元57
3.8.6BC-6單元58
3.8.7BC-7單元58
第四章邊界掃描測試算法
第五章基於邊界掃描的可測試性設計
第六章混合信號電路邊界掃描測試
第七章系統級邊界掃描測試技術
第八章高速數字網路邊界掃描測試
第九章邊界掃描技術在晶片設計中的套用
第十章網路型邊界掃描測試控制器的設計
第十一章邊界掃描測試工具的套用
第十二章基於邊界掃描技術的測試系統設計
參考文獻
