費密電勢

表面分析用芯能級譜的一個大類。 並測定次級粒子的產額。 因此測定次級粒子流強度I與入射電子能量E0之間的關係就可以得到一種相當於測定芯能級束縛能的譜，可用作元素分析以判明固體表面的成分。

表面分析用芯能級譜的一個大類。簡稱APS。它用能量逐漸增長（50→1500電子伏）的電子轟擊固體表面。並測定次級粒子的產額。當入射電子的能量E0超過某一閾值（相當於某一出現電勢）時，就有可能激發固體原子，使某一芯能級EB上的電子躍遷到費密能級E0以上空帶中的某一位置，而在該能級上留下空穴，如圖1a所示；然後在退激發（電子重新落入空穴）時將產生俄歇電子或相當於芯能級束縛能(EB-E0)的標識X射線,如圖1b所示。因此測定次級粒子流強度I與入射電子能量E0之間的關係就可以得到一種相當於測定芯能級束縛能的譜，可用作元素分析以判明固體表面的成分。由於不同元素的各個芯能級束縛能相差很大,所以APS的譜線清晰易讀（圖2）,不會發生混淆；加以不需要能量分析器，儀器結構比較簡單，所以是一種很有用的表面分析方法。