測高計

測高計廣泛運用於高地測量的各個領域。有壓力測高計，光測高計等多種類型。

測高計

正文

見太空飛行器雷達。

配圖

測高計

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申請號：200830004894 申請日：2008/01/31
公告號：300903767
授權日：2009-4-8 授權公告日：2009-4-8
專利類別：外觀 國別省市代碼：JP[日本]
代理機構代碼：11105[對照表] 代理人：馬濤馮曉燕
發明名稱：測高計
國際分類號：1004
範疇分類號：
發明人：大谷茂;淺野芳郎;小永田康博;筱原利行
申請人：三豐株式會社
申請人地址：日本神奈川縣
郵編：
文摘：