測試治具

測試治具屬於治具下面的一個類別,專門對產品的功能、功率校準、壽命、性能等進行測試、試驗的一種治具。因其主要在生產線上用於產品的各項指標的測試,所以叫測試治具。

概況

治具釋義

治具是一個木工、鐵工、以及其他一些手工藝品的大類工具,主要是作為協助控制位置或動作(或兩者)的一種工具。是由英文"jig"的日文諧音字じぐ的漢字治具直接翻過來。因台灣曾被日本長期統治,也就習慣了“治具”這個詞。

名詞解釋

測試治具屬於治具下面的一個類別,專門對產品的功能、功率校準、壽命、性能等進行測試、試驗的一種治具。因其主要在生產線上用於產品的各項指標的測試,所以叫測試治具。

主要用途

治具類別

治具在工業時代前就已被廣泛使用,包括機械治具、木工治具、焊接治具、珠寶治具、以及其他領域。某些類型的治具也稱為“模具”或“輔具”,其主要目的是為重複性和準確的重複某部分的重製。一個明顯的例子是當複製鑰匙時,原始的鑰匙通常被固定於治具上,如此機器就能藉由原始鑰匙外觀的導引複製出新的鑰匙。

治具源由

有許多治具之所以產生是因為商業的需要,因為有許多類型的治具是客制化的,某些是為了提高生產力、重複特定動作、或使工作更加精確。因為治具的設計基本上是建立於邏輯,類似的治具可能會因為使用於不同的時間和地點而分別產生。

分類

鑽孔工具

鑽孔治具是一種可藉由移動模具以導引麻花鑽孔設備或其他鑽孔裝置到每個洞的準確中心位置,並可在多個可互換零件上加速反覆在洞孔中心定位的治具類型,在鐵工實務上,典型的作法是在鑽孔治具上的每個孔留有堅硬套環 (hardened bushing) 以避免麻花鑽切到治具。
由於製造業廣泛的使用 CNC工具機(CNC),其中伺服控制器(servocontrols)具有自動移動工具到正確位置的能力,需要鑽孔治具(和使用鑽孔夾具運營商的工作)就比以前少了。

功能測試治具

功能測試治具是一種用來測試半成品/成品或生產環節中的某一個工序,以此來判斷被測對象是否達到了初始設計者目的的機械輔助設備,功能測試治具套用於模擬、數字、存儲器、RF和電源電路,針對每一形式需要相對應的功能測試治具

ICT測試治具

ICT測試治具即InCircuitest測試治具的縮寫,就是線上檢測、測試治具。是對線上元器件的性能、原理及電氣連線進行測試來檢查生產製造缺陷及元器件不良的一種標準測試設
備。它主要用於檢查線上的單個元器件以及各電路網路的開、短路情況,具有操作簡單、快捷迅速、故障定位準確等特點,ICT測試治具可進行模擬器件功能和數字器件邏輯功能測試,故障覆蓋率高,對每種單板需製作專用的針床,這個針床在工業生產上就叫它ICT測試治具。

老化測試治具

用於對產品或半成品進行抗疲勞的試驗,即進行破壞性試驗,判斷產品的使用壽命是否符合規定的期限的一種治具,稱作老化測試治具

用治具的優缺點

優點

使用治具的好處是如果是相同的製品,就算工人沒有非常純熟的技術,也可以迅速地藉由治具生產大量瑕疵少、變異性低的良品。

缺點

對於多樣少量的生產模式,使許多個治具的結果,反而造成生產成本提高的缺點。

治具與夾具的不同

治具”與“夾具”(fixture) 這兩個詞,由於用途接近,以致常容易被人搞混、甚至誤用。
治具著重在工作和導引工具;夾具則著重於握持工具在一個固定的位置。有一些同時具有這兩種功能(控制和導引工具)的裝置也被稱為治具,但只握持但不具引導工具的裝置則被稱為“夾具”而非“治具”。在進入數控系統時代後已經減少了治具的使用。

治具的式微

在進入自動化和數控系統機器後,治具已經不那么被需要,因為工具路徑已經被數位化並儲存在記憶體中,但“夾具”仍被普遍地被繼續使用。

開短路測試治具

積體電路板測量多種功能,可靈活套用。測試點數可擴張。低成本,在軟板測試方面可替代ICT機台。ICT+FCT測試,COSTDOWN。開短路測試板MiniFCT5,MiniFCT6
控制板特點
開短路測試點標準配置為32個點,通過級聯可擴展到128個點。
短路自學習功能,真正意義的開短路測試,不同於測排線的測試方法。
具有找點功能,方便尋找不良點的位置。
電晶體輸出可驅動電磁閥、繼電器,標準配置8路。可RS485擴展64路
電阻、二極體、電容測量,最多可測量總計80個
PC機步驟配置軟體,並支持按鍵步驟配置
單步調試功能
測量結果查看功能
二次開短路測試功能(最多可測127個點)
良品與不良品通過LCD界面顯示,不良品有報警音,在測試過程中只聽聲音便可得知測試結果,測試更輕鬆
可支持特殊功能如I2C通訊、光柵尺、遊標卡尺,需定做。
可支持4路恆流源輸出、4路光耦輸入、4路比較器輸入、1路差分信號輸入,需定做,與其他功能復用。
簡單的自動化控制場合可取代PLC
上電開關板自檢,錯誤則進入ERRPIN界面,幾秒後退出。
產品用途
可用於各種連線器、線材的開短路測試
IC封裝後的各種測試
FPC軟板測試
IC功能測試

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