D算法

Ｄ算法，是拓撲結構測試中最經典的方法，也是最早實現自動化的測試生成算法之一。它是完備的測試算法，它可以檢測非冗餘電路中所有可以檢測的故障。

1966年Ｒｏｔｈ提出的Ｄ算法，可以認為是拓撲結構測試中最經典的方法，也是最早實現自動化的測試生成算法之一。它是完備的測試算法，它可以檢測非冗餘電路中所有可以檢測的故障。雖然它是在２０世紀６０年代提出的，而且被改正過多次，但是，許多新的測試方法都是在它的基礎上發展起來的。而且一直沿用至今。
D算法在具體套用時，計算工作量很大，尤其是對大型的組合電路計算時間很長,原因是在作敏化通路的選擇時其隨意性太大，特別是在考慮多通路敏化時各種組合的情況太多，然而真正“有效”的選擇往往較少，做了大量的返回操作。
改進的算法，如PODEM和FAN算法，有效地減小了返回次數，提高了效率。