基本信息
電子系統測試原理·譯者：張威 王仲 等
·出版社：機械工業出版社
·頁碼：296 頁
·出版日期：2007年01月
·ISBN：7111198085/9787111198086
·條形碼：9787111198086
·版本：第1版
·裝幀：平裝
·開本：16開
·叢書名：電子與電氣工程叢書
內容簡介
本書全面闡述了電子系統測試原理，共分為五個部分，第1部分介紹本書的目的、電子產品的缺陷種類、VLSI設計表示與設計流程；第II部分介紹故障模擬、測試碼產生及電流測試方法；第III部分討論易測性設計問題，分別介紹專用技術、路徑掃描設計、邊界掃描測試和內建自測試技術；第IV部分介紹特殊結構的測試，包括存儲器、FPGA和微處理器的測試；第v部分涉及當前電子系統測試領域中的前沿問題，包括如何實現易測試性結構和進行SOC試。
本書可作為電子信息類專業研究生教材和IC測試工程技術人員的參考書。
作者簡介
Samiha Mourad博士是加利福尼亞聖克拉拉大學電子工程系教授。
Yervant Zorian博士是加利福尼亞聖何塞Logic Vision公司的首席技術顧問。
目錄
第I部分 設計與測試
第1章 測試綜述
第2章 缺陷、失效和故障
第3章 設計表示
第4章 VLSI設計流程
第II部分 測試流程
第5章 測試中模擬的角色
第6章 自動測試碼生成
第7章 電流測試
第III部分 易測試性設計
第8章 專用技術
第9章 路徑掃描設計
第10章 邊界掃描測試
第11章 內建自測試
第IV部分 特殊結構
第12章 存儲器測試
第13章 FPGA與微處理器的測試
第V部分 高級論題
第14章 易測試性綜合
第15章SOC測試
附錄A 參考書目
附錄B 縮寫詞表
