物化探剖面測量

物化探剖面測量，是為了解物化探異常特性或研究已發現的物化探異常，進行定性或定量的推斷和解釋而進行的勘探剖面測量工作。

概念

物化探剖面測量（profile survey of geophysical and geochemical prospecting）是為了解物化探異常特性或研究已發現的物化探異常，進行定性或定量的推斷和解釋而進行的勘探剖面測量工作。

主要勘探剖面

①物化探典型剖面，是為了了解物化探異常特性，以定性解釋為主或以概略定量推斷解釋為目的而布置的勘探剖面。

②物化探精測剖面，是為了詳細研究已發現的物化探異常而進行定量推斷解釋或為確定物化探工程位置而布設的勘探剖面。