測試生成

(6)測試矢量：能檢測數字積體電路中某個故障的輸入激勵矢量，叫做該故障的測試矢量。 (9)可測故障：至少可被一個測試矢量或一個測試序列所檢測的故障，稱為可測故障。 (12)故障覆蓋率：是指被測電路測試集所能檢測到的故障數與被測電路故障總數的比值。

1 基本原理
數字電路的測試生成，就是要尋找若干輸入矢量使被測故障激活，並且能將故障的效應傳播到原始輸出端測量出來 。測試生成的基本目標是確定測試矢量，當將其施加到被測電路時，測試者能區分正常電路和故障電路。
2 基本概念
(1)故障：數字系統的故障是指一個電路或系統的物理缺陷，它可以使這個電路或系統失效，也可能不失效，也就是說，存在一定故障的電路或系統仍有可能完成其固有的邏輯功能。
(2)原始輸入：在電路中，不接受電路內部任何信號的線，稱為電路的原始輸入。
(3)原始輸出：電路中，可以將信號送到電路的外部進行測量的線，稱為電路的原始輸出。
(4)輸入激勵：輸入激勵是在電路的原始輸入端所加的輸入賦值。對於組合電路的一個原始輸入賦值，一般稱為一個輸入矢量或輸入模式。
(5)輸出回響：在一組或多組輸入激勵作用下，電路輸出所取的邏輯狀態稱為電路對輸入激勵的輸出回響，電路可以是單輸出，也可以是多輸出。一般情況下，無故障電路的輸出回響稱為正常輸出回響，故障電路的輸出回響稱為故障輸出回響。
(6)測試矢量：能檢測數字積體電路中某個故障的輸入激勵矢量，叫做該故障的測試矢量。對於組合電路，一個測試矢量只是原始輸入信號的一種賦值組合，也稱為測試碼或測試模式。
(7)測試生成：測試生成是產生電路的測試矢量或測試序列的方法或算法。
(8)測試集：若干測試碼的集合稱為測試集。某個故障的全部測試碼的集合稱為該故障的完全測試集，簡稱故障的測試集。被測電路的所有可測故障的完全測試集的集合，稱為電路的完全測試集，簡稱電路的測試集。
(9)可測故障：至少可被一個測試矢量或一個測試序列所檢測的故障，稱為可測故障。
(10)不可測故障：沒有任何一個測試矢量或一個測試序列能夠檢測的故障，稱為不可測故障，在國外的文獻上，有時也稱為冗餘故障。
(11)等效故障：若故障 和故障 的測試集分別是 和 ，如果有 ，則稱故障 隸屬故障 ，而故障 支配故障 。
(12)故障覆蓋率：是指被測電路測試集所能檢測到的故障數與被測電路故障總數的比值。
(13)測試生成時間：測試生成算法生成被測電路測試集所花費的時間，一般用CPU時間來表示，單位是秒(s)。
(14)扇出：一個元件的輸出連線多個元件的輸入被稱為扇出，該輸出線被稱為扇出點，由扇出點至其它元件的連線稱為扇出分支。如果從同一扇出點出發的兩條或多條路徑經過若乾元件後到達同一個門的兩個或多個輸入端，稱為扇出重匯聚，該門稱為匯聚門。