干涉成像光譜儀

干涉成像光譜儀是利用干涉原理獲得一系列隨光程差變化的干涉圖樣，通過反演可以得到目標物體的二維空間圖像和一維光譜信息的儀器。干涉成像光譜儀有時間調製型和空間調製型兩種。

物質的特徵與其特徵光譜曲線是密切相關的。為了獲得特徵光譜曲線，出現了光譜儀。成像光譜儀不但可以獲得目標的圖像特徵，而且可以獲得

干涉成像光譜儀

目標的特徵光譜曲線。 處理成像光譜儀獲得三維信息，可以分析目標的物質構成及各成分的含量等特徵。 干涉成像光譜儀具有高通量、多通道、高光譜解析度的優點，在軍事和航空遙感等方面有著廣泛的套用。

干涉成像光譜儀工作原理

干涉成像光譜儀原理是將目標的光分成兩束，通過控制兩束光的光程差，並使兩束光在感光元件處相遇發生干涉，從而獲得的是一系列不同光程差得到的干涉圖樣(圖1為空間調製型干涉成像光譜獲得的干涉圖樣)。干涉圖樣經過一些列的處理、反演後才能夠得到物體的圖像——光譜三維信息，即目標每一點的光譜曲線（圖3）。

圖1、干涉圖(橫軸為空間像元，縱軸為干涉曲線採樣點數，代表不同光程差。)

圖2、干涉曲線(橫軸為干涉曲線採樣點數，縱軸為灰度值，本圖是圖1從左到右第65列對應的干涉曲線)

圖3 光譜曲線(橫軸為通道數，縱軸為輻亮度，本圖是圖2反演的光譜曲線)

圖4展示的是11月27日04:54:27至04:56:10獲取的月表干涉成像光譜儀數據。該圖分別展示了32譜段中的第4、17、30譜段和它們合成的假彩色圖。

圖5 光譜儀成像區域在同軌CCD立體相機成像區域中的相對位置