方法簡介
HASS(Highly accelerated stress screen）高加速應力篩選
HALT(Highly accelerated life test)高加速壽命試驗
可靠性測試中的HALT實驗與HASS實驗
它將原需花費6個月甚至1年的新產品可靠性試驗縮短至一周，且在這一周中所發現的產品問題幾乎與客戶套用所發現的問題一致，故HALT & HASS的試驗方式已成為新產品上市前所必需通過的驗證。在美國之外，許多國際的3C電子產品大廠也都使用相同或類似的手法來提升產品質量。
HALT
HALT是一種通過讓被測物承受不同的應力，進而發現其設計上的缺陷，以及潛在弱點的實驗方法。HALT的主要目的是通過增加被測物的極限值，進而增加其堅固性及可靠性。HALT利用階梯應力的方式加諸於產品，能夠在早期發現產品缺陷、操作設計邊際及結構強度極限的方法。其加諸於產品的應力有振動、高低溫、溫度循環、電力開關循環、電壓邊際及頻率邊際測試等。利用該測試可迅速找出產品設計及製造的缺陷、改善設計缺陷、增加產品可靠性並縮短其上市周期，同時還可建立設計能力、產品可靠性的基礎數據及日後研發的重要依據。
簡單地說，HALT是以連續的測試、分析、驗證及改正構成了整個程式，關鍵在於分析所有故障的根本原因。
主要測試功能
◆利用高環境應力將產品設計缺陷激發出來，並加以改善；
◆了解產品的設計能力及失效模式；
◆作為高應力篩選及稽核規格制定的參考；
◆快速找出產品製造過程的瑕疵；
◆增加產品的可靠性，減少維修成本；
◆建立產品設計能力資料庫，為研發提供依據並可縮短設計製造周期。
◆HALT套用於產品的研發階段，能夠及早發現產品可靠性的薄弱環節。其所施加的應力要遠遠高於產品在正常運輸﹑貯藏﹑使用時的應力。
主要試程
◆溫度應力；
◆高速溫度傳導；
◆隨機振動；
◆溫度及振動合併應力。
在HALT試驗中可找到被測物在溫度及振動應力下的可操作界限與破壞界限。此實驗所用設備為QualMark公司所設計的綜合環境試驗機（OVS Combined Stress System），溫度範圍為-100℃～+200℃，溫度變化最大速率為60℃/min，最大加速度可到60Grms，而且振動機與溫度箱合二為一的設計可同時對被測物施加溫度與振動應力。以下就四個試程的一般情況分別加以說明：
（1）溫度應力（HL高低溫試驗箱）
此項試驗分為低溫及高溫兩個階段應力。首先執行低溫階段應力，設定起始溫度為20℃，每階段降溫10℃，階段溫度穩定後維持10min，之後在階段穩定溫度下執行至少一次的功能測試，如一切正常則將溫度再降10℃，並待溫度穩定後維持10min再執行功能，依此類推直至發生功能故障，以判斷是否達到操作界限或破壞界限；在完成低溫應力試驗後，可依相同程式執行高溫應力試驗，即將綜合環境應力試驗機自20℃開始，每階段升溫10℃，待溫度穩定後維持10min，而後執行功能測試直到發現高溫操作界限及高溫破壞界限為止。
（2）高速溫度傳導
此項試驗將先前在溫度階段應力測試中所得到的低溫及高溫操控界限作為此處的高低溫度界限，並以每分鐘60℃的快速溫度變化率在此區間內進行6個循環的高低溫度變化。在每個循環的最高溫度及最低溫度都要停留10min，並使溫度穩定後再執行功能測試。檢查待測物是否發生可回復性故障，尋找其可操作界限。在此試驗中不需尋找破壞界限。
（3）隨機振動（艾思荔振動試驗機）
此項試驗是將G值自5g開始，且每階段增加5g，並在每個階段維持10min後在振動持續的條件下執行功能測試，以判斷其是否達到可操作界限或破壞界限。
（4）溫度及振動合併應力（ASLI溫度濕度振動三綜合試驗機）
此項試驗將高速溫度傳導及隨機振動測試合併同時進行，使加速老化的效果更加顯著。此處使用先前的快速溫變循環條件及溫變率，並將隨機振動自5g開始配合每個循環遞增5g，且使每個循環的最高及最低溫度持續10min，待溫度穩定後執行功能測試，如此重複進行直至達到可操作界限及破壞界限為止。
註：以上實驗參數只是舉例，具體產品視產品要求而定。
對在以上四個試程中被測物所產生的任何異常狀態進行記錄，分析是否可由更改設計克服這些問題，加以修改後再進行下一步驟的測試。通過提高產品的可操作界限及破壞界限，從而達到提升可靠性的目的。
HASS
HASS套用於產品的生產階段，以確保所有在HALT中找到的改進措施能夠得已實施。HASS還能夠確保不會由於生產工藝和元器件的改動而引入新的缺陷。
HASS包含如下內容
◆進行預篩選，剔除可能發展為明顯缺陷的隱性缺陷；
◆進行探測篩選，找出明顯缺陷；
◆故障分析；
◆改進措施。
套用HASS的目的是要在極短的時間內發現批量生產的成品是否存在生產質量上的隱患，該試驗包括三個主要試程：
◆HASS Development （HASS試驗計畫階段）
◆Proof-of-Screen（計畫驗證階段）
◆Production HASS（HASS執行階段）
一般電子產品的測試過程
（1）HASS Development
HASS試驗計畫必須參考前面HALT試驗所得到的結果。一般是將溫度及振動合併應力中的高、低溫度的可操作界限縮小20%，而振動條件則以破壞界限G值的50%做為HASS試驗計畫的初始條件。然後再依據此條件開始執行溫度及振動合併應力測試，並觀察被測物是否有故障出現。如有故障出現，須先判斷是因過大的環境應力造成的，還是由被測物本身的質量引起的。屬前者時應再放寬溫度及振動應力10%再進行測試，屬後者時表示目前測試條件有效。如無故障情況發生，則須再加嚴測試環境應力10%再進行測試。
（2）Proof-of-Screen
在建立HASS Profile（HASS 程式）時應注意兩個原則：首先，須能檢測出可能造成設備故障的隱患；其次，經試驗後不致造成設備損壞或"內傷"。為了確保HASS試驗計畫階段所得到的結果符合上述兩個原則，必須準備3個試驗品，並在每個試品上製作一些未依標準工藝製造或組裝的缺陷，如零件浮插、空焊及組裝不當等。以HASS試驗計畫階段所得到的條件測試各試驗品，並觀察各試品上的人造缺陷是否能被檢測出來，以決定是否加嚴或放寬測試條件，而能使HASS Profile達到預期效果。
在完成有效性測試後，應再以新的試驗品，以調整過的條件測試30～50次，如皆未發生因應力不當而被破壞的現象，此時即可判定HASS Profile通過計畫驗證階段測試，並可做為Production HASS之用。反之則須再檢討，調整測試條件以求獲得最佳的組合。
（3）Production HASS
任何一個經過Proof-of-Screen考驗過的HASS Profile皆被視為快速有效的質量篩選利器，但仍須配合產品經客戶使用後所回饋的異常再做適當的調整。另外，當設計變更時，亦相應修改測試條件。
