書籍信息
•著譯者：鄭振環，李強
•版次：1
•出版日期：2016-06
•開本：16
•出版社：中國建材工業出版社
•裝幀：平裝
•ISBN：9787516014561
•頁數：120
內容簡介
Rietveld法全譜擬合已成為X射線多晶衍射修正晶體結構的重要方法。本書共分為四章，側重從操作示例介紹Rietveld法的基本原理和精修過程。
第1章簡要介紹Rietveld法的發展概況和基本原理。第2章介紹精修軟體EXPGUI-GSAS的安裝和使用界面。第3章介紹Rietveld法X射線多晶衍射數據的實驗測試，並以簡單例子演示EXPGUI-GSAS精修過程以及結果的提取和圖譜繪圖。第4章給出了三個提高練習示例，包括創建儀器參數檔案、含非晶混合物的定量分析以及占位修正等。
《X射線多晶衍射數據Rietveld精修及GSAS軟體入門》一書具有很強的實用性，可以作為材料、化學以及地質等領域學習X射線多晶衍射Rietveld法結構精修和GSAS軟體的研究人員的入門參考書，也可以作為本科生、研究生教學的實驗教材。
圖書目錄
第1章 Rietveld法結構精修
1.1 Rietveld法結構精修發展概況
1.2 Rietveld法基本原理
1.3 參數修正順序與結果判據
1.3.1 參數修正的順序
1.3.2 精修的數值判據
1.3.3 精修的圖示判斷
1.4 精修過程出現的問題和對策
1.5 Rietveld法結構精修的套用
1.5.1 修正晶體結構
1.5.2 相變研究和點陣常數測定
1.5.3 物相定量分析
1.5.4 晶粒尺寸和微應變測定
第2章 EXPGUI-GSAS軟體安裝與界面介紹
2.1 GSAS軟體簡介
2.2 EXPGUI-GSAS軟體的安裝
2.3 EXPGUI-GSAS軟體界面介紹
2.3.1 選單欄
2.3.2 選項卡界面
2.3.3 EXPGUI幫助內容
第3章 EXPGUI-GSAS結構精修起步
3.1 精修前的準備工作
3.1.1 衍射數據的測定
3.1.2 衍射數據的轉換
3.1.3 初始結構的獲取
3.2 EXPGUI精修簡單示例
3.2.1 生成EXP檔案
3.2.2 精修過程
3.2.3 常見問題
3.3 精修結果提取與繪圖
3.3.1 精修結果提取
3.3.2 精修圖譜繪圖
第4章 EXPGUI-GSAS提高練習
4.1 儀器參數檔案的建立
4.1.1 基本知識
4.1.2 操作過程
4.2 物相（含非晶）定量分析
4.2.1 基本原理
4.2.2 衍射數據測試
4.2.3 精修過程
4.3 Le Bail法擬合以及約束的使用
4.3.1 問題描述
4.3.2 精修過程
參考文獻
