釋義
PDL的定義測量誤差
光源波動產生的誤差
PDL的定義二次反射產生的誤差
即使光源本身非常穩定，測量系統中不同位置的微弱反射可能會反饋回雷射器，干擾雷射器的工作並導致輸出的不穩定。因此，即使光源的輸出端可能已經有了隔離器，我們仍強烈建議在PDL測量儀器的輸入端加上隔離器，以減少反射。另外，為了減少連線器的反射，在光源與PDL測試儀之間的所有連線器都應該使用APC接頭。
二次反射產生的誤差其中Pin和Pdr分別是主光束和二次反射光束的功率， ein和edr是主光束和二次反射光束的偏振態的單位復矢量，Φ是它們之間的相位差。
為了減小二次反射帶來的影響，如果可能的話，應儘量使用反射較小的APC接頭。或者也可以使用短相干長度的光源（相干長度小於主光束與二次反射光的光程差）。這樣，公式(2)描述的干涉現象就不會發生，從而，公式(3)描述的干涉波動不會發生。雖然二次反射光的很弱，但由於會與強光信號（輸入光）發生干涉，它的影響不容忽視。例如，如果一束光先被一個自由端的PC接頭反射（典型的反射率為4%），然後再被一對PC接頭（回波損耗為40dB，反射率為0.01%）反射，探測到的功率波動可達0.017dB。這個功率波動會引起PDL測量波動0.017dB。當待測器件具有相似的PDL值時，該數值是不能夠被忽略的。如果在前面那個例子中使用回波損耗為60dB的APC接頭代替PC接頭，PDL測量結果的波動將減少到0.0017dB，這個數值在大多數情況是可以被忽略的。
接頭和光纖產生的誤差
除了DUT之外，在PDL測量中使用的光纖和（或）接頭也會有很小的PDL。例如，光纖本身會有0.01dB量級的PDL，而且當光纖彎曲的曲率半徑很小時，這個值還會增加。連線的光纖跳線也有較小的PDL，量級為 0.01-0.02 dB。連線不佳的光纖跳線會有更高的PDL值，這可能是在連線過程中過度擠壓光纖造成的。APC接頭一般會有很高的PDL，尤其是在沒有與另外的APC接頭配對使用時。因此，在測試過程中，一條帶接頭的跳線很可能會對DUT的PDL測量產生0.02dB或更高的誤差。
PDL矢量和引起的波動
PDL可以被看成一個三維空間裡的矢量，因為公式1中的Pmax和Pmin相當於輸入光的兩個正交偏振態，這可以描繪在邦加球上。因此，當測量裝置中有兩個或更多器件的PDL不為0時，總的PDL為所有器件PDL的矢量疊加。舉例說明，測量得到的總PDL是A、B、C、D四個光纖接頭和DUT 的PDL的矢量之和（為了簡化器件，假設光纖的PDL為零）：
PDL矢量和引起的波動其中，PDLT和eT是總PDL的值和復單位矢量；PDLa,PDLb,PDLc,PDLd,PDLDUT 分別是A、B、C、D接頭和待測器件的PDL；ea,eb,ec,ed,eDUT 分別為這些PDL的單位復矢量。圖4用圖示了PDL矢量是如何疊加的。如果所有的矢量都是平行的就會得到最大的PDL：
PDL矢量和引起的波動如果所有接頭的PDL向量都平行，並與待測器件的PDL向量方向相反，就會得到最小PDL，在此假設待測器件的PDL值大於所有接頭PDL值之和：
PDL矢量和引起的波動每一個器件PDL矢量的方向與器件的取向和光纖中的應力致雙折射有關。當兩個器件間的光纖被擾動，PDL矢量的相對方向也隨之發生改變，從而導致測量值的變化。因此，PDL測量值的最大改變數為：
PDL矢量和引起的波動如果待測器件的PDL遠大於連線頭的PDL，相對測量誤差就比較小。如果待測器件的PDL與連線頭的PDL大體相當，就會產生很大的相對誤差。因此，為了得到PDL較小的待測器件（如熔融拉錐耦合器）的精確特性描述，連線頭和與待測器件相連的光纖的PDL必須非常小。通常，限制測量精度的因素往往不是儀器本身，而是連線頭和與待測器件相連的光纖的殘餘PDL。
減少誤差方法
PDL-101多功能測試儀在牢記 以上描述的PDL測量誤差來源的同時，這裡概括了PDL測量一些好的習慣。以 General Photonics公司PDL-101多功能測試儀為例。
1. 用於PDL測量的光源必須是高穩定光源，光源的短期穩定性應與預期的PDL測量精度大體相當。如果要達到0.02dB 的PDL測量精度，光源短期功率穩定度必須高於0.02dB。
2. 建議在PDL-101的輸入端加一個隔離器，用來減少從下游接頭和待測器件反射回來的光進入光源。General Photonics公司的NoTail型隔離器沒有尾纖，是首選產品。
3. 為了減少反射光進入光源，從而減少由此引起的光源不穩定性，在光源和PDL-101之間應該採用APC接頭。因此，在第二步中描述的NoTail型隔離器應該採用APC連線。
PDL4. 光源的偏振態要相對穩定。光源偏振態的快速波動將導致測量結果的波動。
5. 光源的波長要相對穩定，由於連線光源與測量儀器的光纖中存在雙折射，因而光源波長的快速波動將導致偏振態的快速波動。
6. 應採用PDL較小的光纖跳線連線待測器件。
7. 為了減少由二次反射所造成的測量誤差，應該使用APC接頭將光輸入到測量儀器和待測器件。PDL-101有APC穿板式接頭。為了精確測量低PDL的待測器件（小於0.1dB），可以在接頭B和C處使用折射率匹配膏，來減少背向反射和殘餘PDL。
PDL8. 為了減少接頭PDL的影響，應使用PC接頭將待測器件的輸出光引入測量儀器。PC接頭的輸出光將直接射入測量儀器內部的自由空間光電探測器。如果在這裡使用APC接頭，就會產生0.03～0.04 dB的PDL誤差。
9. 因為彎曲會在光纖中產生不能忽略的PDL，所以在接頭A和接頭D之間的光纖不應該有強烈的彎曲或很緊的纏繞。
10. 對生產平台上的無連線器的帶尾纖器件的測量應使用。在這個光路中，尾纖帶APC接頭的一端與APC穿板式接頭A連線，另外沒有接頭的自由端留做熔接。
PDL測量操作人員可以將自由端與待測器件輸入端熔接起來，將待測器件的輸出端用可拆除的裸纖適配器連線到穿板式接頭D。可在APC接頭A處使用折射率匹配膏來減少由此引起的PDL。
注釋：接頭A也會產生微小的背景PDL。因此，無連線器的帶尾纖的器件的測量（尤其是低PDL器件），可以將此接頭換做一段尾纖，從而能夠將其與待測器件的輸入端熔接。
