應力雙折射
常以折射率橢球方程描述晶體的光學特性。在主軸坐標系中，折射率橢球方程可以寫為 
。 (1)
當有外力作用於媒質時，折射率橢球方程變為 a1x2+a2y2+a3z2+a4yz+a5xz+a6xy＝1。 (2)
式(2)與式(1)相比各項係數之差與各應力分量成正比， 
， (3)
其中p1，p2,…,p6分別表示各應力分量pxx、pyy、pzz、pyz、pxz、pxy，前三個為法向應力，後三個為切向應力；ni為晶體中各折射率分量,n1＝nx,n2＝ny,n3=nz，n4=n5=n6=0。係數qij稱為應力光學常數,可用一個6×6的矩陣表示，其中有些矩陣元可能為零，有些彼此相關。同一類型的晶體非零矩陣元以及各矩陣元之間的關係是相同的，而每個矩陣元的數值則因材料而異。
各向同性材料,情況要簡單得多。若將受力T作用的各向同性材料M放在兩正交偏振器P與A之間(如圖)，取光傳播方向為z軸，材料在z軸方向長度為l,力與z軸垂直。光通過M後,兩偏振分量的位相差近似為 
(4)
式中p為應力,k為與應力光學常數及媒質折射率n有關的物質常數。由式(4)可見,位相差δ 是波長的函式。若以白光照明,迎著z所指的方向觀察，可以看到彩色的偏振光干涉圖樣。藉助補償器B可測量應力雙折射的大小。 
應力雙折射利用這一裝置，在不加外力的條件下，可檢驗光學材料的內應力。在工程上，可用應力雙折射效應觀察各力學結構的應力分布。為此可用各向同性的透明的應力光敏材料做成縮小的模型，在正交偏振器間觀察偏振光的干涉圖樣。同樣，也可用這一方法檢查機械零件在加負載狀態下的應力分布。利用應力雙折射效應可以做成可調的壓光補償器或壓光調製器。材料可選用熔石英或氟化鋰。配圖
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