光電測試技術

光電測試技術,作者李宗吾,由中國華僑出版社於2010年出版。描述的是在商品經濟社會,“優勝劣汰、適者生存”的自然規則是永遠的真理。厚黑功夫對涉足社會的人們來說都是必不可少的。通過大量貼近生活的事例和精煉的要點,從掌握為人處世、經商原則、為政原則等方面,生動地展示了輕鬆處世、靈活辦事的方法。

基本信息

圖書信息

書 名: 光電測試技術
作 者:浦昭邦,趙輝 
出版社機械工業出版社
出版時間: 2010-3-1
ISBN: 9787111286431
開本: 16開
定價: 36.00元

內容簡介

本書首先系統地介紹了光度學的基本理論和光電測量的光學基礎,然後深入地講述了光電測量技術中的光源,光電變換的光子探測器件、熱電探測器件和光電攝像器件及基於電子物理學的光學變換器件的基本原理和使用方法。還對常用的光電子探測器件的檢測電路靜態與動態設計方法和典型電路進行了論述與分析。
本書為了使讀者對光電測量系統進行深入了解,對光電測量中的光束調製與掃描、非相干信號的光電變換與檢測、相干變換與檢測的原理與方法及其設計進行了系統的論述。最後介紹了雷射測量、視覺檢測和光纖測量技術實用光電測量系統。
本書具有理論和實際密切結合、論述系統深入而又通俗易懂的特點,因此既可以作為相關專業的大學本科教材,也可作為研究生教材和供相關工程技術人員作為設計光電測量系統的參考資料。

圖書信息

書 名: 光電測試技術
作 者:范志剛 張愛紅
出版社電子工業出版社
出版時間: 2008年08月
ISBN: 9787121072680
開本: 16開
定價: 32.80 元

內容簡介

《光電測試技術》以光電測試方法和感測技術為主線,以雷射測試技術為重點,較全面地介紹了在光學量和非光學量測試中所涉及的基本理論和概念、主要測試原理和測試方法、儀器組成及主要技術特點。全書共分9章,緒論主要介紹光電測試技術的發展歷史、概況、特點,以及關於測量的基本知識和數據處理方法;第l章介紹光電測試中的光輻射體和光輻射探測器件的基本性能和特點;第2章介紹基本光學量測試技術;第3章介紹色度學的基本原理和色度、光度測試技術;第4~6章介紹雷射測試技術,包括雷射準直、測速、測距及干涉、衍射測試技術;第7章介紹光纖測試技術;第8章介紹套用廣泛的莫爾條紋、三角法和圖像測試技術。上述光電測試技術廣泛地套用於工業、農業、文教、衛生、國防、科研和家庭生活等各個領域。
《光電測試技術》可作為光學工程、測控技術與儀器、電子科學與技術、信息科學與技術等專業的本科生、研究生教材或參考書,也可供有關工程技術人員參考。

圖書信息

作者張廣軍 主編
ISBN:10位[7502617817]13位[9787502617813]
出版社中國計量出版社
出版日期:2003-10-1
定價:¥33.00元

內容提要

本書系統地介紹了光電測試的基本原理、方法及套用。主要內容包括幾何光學基礎、物理光學基礎、光電測試學用光源、光電探測器、光電測試系統設計基礎及設計實例、典型光電測試系統、光纖感測技術、計算機視覺技術。
本書融入了最新的科研成果,實用性強,可作為高等學校“測控技術與儀器”專業本科及研究生的教材,也可作為從事相關專業工作的技術人員的參考書。

目錄

第1章 幾何光學基礎
第2章 物理光學基礎
第3章 光源
第4章 光電探測器
第5章 光電測試系統設計基礎及設計實例
第6章 典型光電測試系統
第7章 光纖感測技術
第8章 計算機視覺技術
參考文獻

圖書信息


光電測試技術




書號:

15348

ISBN:

7-111-15348-0

作者:

浦昭邦 主編

印次:

1-3

責編:

劉麗敏

開本:

16

字數:


定價:

¥28.00

所屬叢書:

普通高等教育測控信息技術規劃教材



裝訂:


出版日期:

2008-07-17

內容簡介

章節目錄

前言上 篇 (技術基礎篇) 第一章 光電測試技術概論 第一節 信息技術與光電測試技術 第二節 光電測試系統的組成 第三節 光電測試技術的展望及其特點第二章 光輻射的光度學基礎與光源第一節 光度的基本物理量一、光譜光視效率二、光度的基本物理量第二節 光度學基本定律 一、餘弦定律 二、亮度守恆定律 三、照度與距離平方反比定律第三節 光輻射在空氣中的傳播 一、大氣衰減 二、空氣湍流效應第四節 光電測量系統中的常用光源一、光源的基本參數二、光電測量中的常用光源第三章 光電測試技術中常用 光學系統第一節 顯微光學系統一、放大鏡及放大率二、顯微光學系統第二節 望遠光學系統一、望遠光學系統的原理和性質二、望遠鏡的主要光學性能三、準直、自準直望遠鏡四、反射式與折反式望遠鏡第三節 攝影系統 一、攝影系統的主要技術參數 二、攝影物鏡第四節 投影光學系統一、投影光學系統原理二、投影系統的主要技術參數第五節 照明系統 一、照明系統的設計原則 二、照明的種類第四章 光電測試常用器件第一節 光電器件的性能參數 一、光電器件的探測靈敏度(回響度) 二、回響時間和頻率回響 三、噪聲等效功率(NEP) 四、探測度D與比探測度D 五、量子效率第二節 光電發射器件 一、光電發射效應 二、光電真空器件及其特性第三節 光電導器件 一、光電導效應 二、光敏電阻及其特性第四節 光伏器件 一、光伏效應 二、光電池 三、光敏二極體 四、PIN光敏二極體 五、雪崩光敏二極體 六、光敏電晶體 七、光電位置器件 八、光伏器件的特性與使用要點第五節 各種光子探測器件的性能比較和套用選擇一、接收光信號的方式 二、各種光子探測器件的性能比較 三、套用選擇 第六節 熱電探測器件 一、熱電探測器的一般原理 二、溫差電偶 三、熱敏電阻及其特性 四、熱釋電器件 第七節 光電成像器件 一、像管 二、攝像管 三、固體攝像器件工作原理及其參數 第八節 光調製器件 一、電光器件 二、聲光器件 三、磁光器件第五章 光電檢測電路 第一節 光電檢測電路的設計要求 第二節 典型光電輸入電路 一、光敏電阻輸入電路 二、光電倍增管輸入電路 三、光電池輸入電路 四、光敏二極體輸入電路 五、光敏電晶體輸入電路 六、光電器件與運算放大器的連線 七、弱光檢測電路 第三節 光電檢測電路的頻寬和 頻率特性 一、光電檢測電路的頻寬 二、光電檢測電路的頻率特性 第四節 光電檢測系統的噪聲與抑制 一、噪聲的類型 二、噪聲的等效處理 三、典型光電檢測電路的噪聲估算 第五節 前置放大及光耦合電路 一、前置放大電路的設計 二、光耦合電路的設計 第六節 光電檢測電路套用實例 一、光電報警電路 二、光電開關電路 三、其他光電套用電路第六章 光束的調製與掃描 第一節 光調製的基本概念 一、調製的概念與分類 二、調製信息的頻譜 第二節 光信號的調製方法 一、光信號的調製原理 二、調製方法 三、調製信號的解凋 第三節 光束掃描 一、掃描方法和工作參數 二、光束掃描測量下 篇 (套用技術篇) 第七章 非相干信號的光電變換與檢測 第一節 光電信號變換與光電測量系統概述 第二節 直接檢測系統的工作原理 第三節 隨時間變化的光電信號變換與檢測方法 一、幅值法 二、頻率法 三、相位和時間測量法 四、光電測距的作用距離 第四節 隨空間變化的光電信號變換與檢測方法 一、幾何中心檢測法 二、幾何位置檢測法 三、亮度中心檢測法第八章 相干變換與檢測方法 第一節 相干變換與檢測的原理 一、光學干涉和干涉測量 二、干涉測量中的調製和解調 第二節 相干信號的相位調製與檢測 一、相位調製的干涉系統 二、干涉條紋的檢測方法 三、二次相位調製與干涉圖分析第三節 相干光外差檢測原理與方法 一、光學外差檢測原理 二、外差檢測的調頻方法 三、外差檢測方法第九章 現代光電測試技術第一節 概述第二節 雷射測量技術一、雷射干涉測長技術二、共光路雷射干涉儀測量技術三、雷射外差干涉測量技術四、雷射掃描測量、掃描定位與掃描跟蹤第三節 視覺檢測技術 一、視覺檢測系統的組成 二、典型視覺檢測系統 三、視覺檢測的標定方法 四、視覺檢測圖像處理基礎第四節 光纖測量技術一、光纖測量技術概述二、光纖位移測量技術三、光纖溫度測量技術四、光纖壓力測量技術五、光纖電流測量技術參考文獻

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