測厚儀

測厚儀

測厚儀(thickness gauge)是用來測量材料及物體厚度的儀表。在工業生產中常用來連續或抽樣測量產品的厚度(如鋼板、鋼帶、薄膜、紙張、金屬箔片等材料)。這類儀表中有利用α射線、β射線、γ射線穿透特性的放射性厚度計;有利用超音波頻率變化的超音波厚度計;有利用渦流原理的電渦流厚度計;還有利用機械接觸式測量原理的測厚儀等。

基本信息

分類

1、接觸式測厚儀按接觸面積大小劃分:
點接觸式測厚儀
面接觸時測厚儀
2、非接觸式測厚儀按測試原理劃分:
雷射測厚儀
超音波測厚儀
塗層測厚儀
X射線測厚儀
白光干涉測厚儀
電解式測厚儀
管厚規

主要類型

雷射測厚儀雷射測厚儀
雷射測厚儀:是利用雷射的反射原理,根據光切法測量和觀察機械製造中零件加工表面的微觀幾何形狀來測量產品的厚度,是一種非接觸式的動態測量儀器。它可直接輸出數位訊號與工業計算機相連線,並迅速處理數據並輸出偏差值到各種工業設備。

X射線測厚儀:

利用X射線穿透被測材料時,X射線的強度的變化與材料的厚度相關的特性,從而測定材料的厚度,是一種非接觸式的動態計量儀器。它以PLC和工業計算機為核心,採集計算數據並輸出目標偏差值給軋機厚度控制系統,達到要求的軋制厚度。主要套用行業:有色金屬的板帶箔加工、冶金行業的板帶加。

紙張測厚儀:

適用於4mm以下的各種薄膜、紙張、紙板以及其他片狀材料厚度的測量。

薄膜測厚儀:

用於測定薄膜、薄片等材料的厚度,測量範圍寬、測量精度高,具有數據輸出、任意位置置零、公英制轉換、自動斷電等特點。

超音波測厚儀超音波測厚儀
超音波測厚儀:超音波測厚儀是根據超音波脈衝反射原理來進行厚度測量的,當探頭髮射的超音波脈衝通過被測物體到達材料分界面時,脈衝被反射回探頭,通過精確測量超音波在材料中傳播的時間來確定被測材料的厚度。凡能使超音波以一恆定速度在其內部傳播的各種材料均可採用此原理測量。適合測量金屬(如鋼、鑄鐵、鋁、銅等)、塑膠、陶瓷、玻璃、玻璃纖維及其他任何超音波的良導體的厚度。

X射線測厚儀:適用生產鋁板、銅板、鋼板等冶金材料為產品的企業,可以與軋機配套,套用於熱軋、鑄軋、冷軋、箔軋。其中,x射線測厚儀還可以用於冷軋、箔軋和部分熱軋的軋機生產過程中對板材厚度進行自動控制。塗層測厚儀F型探頭可直接測量導磁材料(如鋼鐵、鎳)表面上的非導磁覆蓋層厚度(如:油漆、塑膠、搪瓷、銅、鋁、鋅、鉻、等)。可套用於電鍍層、油漆層、搪瓷層、鋁瓦、銅瓦、巴氏合金瓦、磷化層、紙張的厚度測量,也可用於船體油漆及水下結構件的附著物的厚度測量。

塗層測厚儀:
塗層測厚儀塗層測厚儀
採用電磁感應法測量塗層的厚度。位於部件表面的探頭產生一個閉合的磁迴路,隨著探頭與鐵磁性材料間的距離的改變,該磁迴路將不同程度的改變,引起磁阻及探頭線圈電感的變化。利用這一原理可以精確地測量探頭與鐵磁性材料間的距離,即塗層厚度。塗層測厚儀具有兩種測量方式:連續測量方式(CONTINUE)和單次測量方式(SINGLE);具有兩種工作方式:直接方式(DIRECT)和成組方式(APPL);設有五個統計量:平均值(MEAN)、最大值(MAX)、最小值(MIN)、測試次數(NO.)、標準偏差(S.DEV)
塗鍍層測厚儀根據測量原理一般有以下五種類型:
1.磁性測厚法:適用導磁材料上的非導磁層厚度測量。導磁材料一般為:鋼,鐵,銀,鎳。此種方法測量精度高。
2.渦流測厚法:適用導電金屬上的非導電層厚度測量。此種較磁性測厚法精度低。
3.超音波測厚法:適用多層塗鍍層厚度的測量或者是以上兩種方法都無法測量的場合。但一般價格昂貴,測量精度也不高。
4.電解測厚法:此方法有別於以上三種,不屬於無損檢測,需要破壞塗鍍層,一般精度也不高。測量起來比較其他幾種麻煩。
5.放射測厚法:此處儀器價格非常昂貴(一般在10萬RMB以上),適用於一些特殊場合。

雷射測厚儀:

板材(鋼坯)雷射厚度檢測系統具有無輻射、成本低、便於維護等特點,雷射測厚儀是通過採用自主雷射檢測技術及可靠的防護措施研製而成的,完全滿足熱軋板坯厚度檢測的需求。雷射測厚儀是基於三角測距原理,使用集成式的三角測距感測器測量出從安裝支架到物體表面的距離,進而根據支架的固定距離計算得出物體的厚度。雷射束在被測物體表面上形成一個很小的光斑,成像物鏡將該光斑成像到光敏接收器的光敏面上,產生探測其敏感面上光斑位置的電信號。當被測物體移動時,其表面上光斑相對成像物鏡的位置發生改變,相應地其像點在光敏器件上的位置也要發生變化,進而可計算出被測物體的實際移動距離。

紙張薄膜測厚儀:

紙張薄膜測厚儀採用機械接觸式測量方式,嚴格符合標準要求,有效保證了測試的規範性和準確性。專業適用於量程範圍內的塑膠薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、矽片等各種材料的厚度精確測量。

非接觸式紙張測厚儀:

英國真尚有公司研發的測厚儀使用了新的非接觸式測量方法,可以實現對紙張的非接觸式測量,避免對紙張造成形變引起誤差。測量精度達到微米級,是目前精度最高的測厚儀,並且可以線上測量。實現生產自動化的閉環控制。非接觸式測厚儀的測量原理:使用兩個紙張厚度感測器安裝在被測物(紙張)上下方,將感測器固定在穩定的支架上,確保兩個感測器的雷射能對在同一點上。隨著被測物的移動感測器就開始對其表面進行採樣,分別測量出目標上下表面分別與上下成對的雷射位移感測器距離,測量值通過串口傳輸到計算機,再通過我們在計算機上的測厚軟體進行處理,得到目標被測物體的厚度值。非接觸式紙張測厚儀同樣可以測量其他薄膜類、片材類物體的厚度。

磁性測厚儀磁性測厚儀
磁性測厚儀:磁性測厚儀一體式儀器結構,可以單手操作。它採用電磁感應原理,適用於測量各種磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度,可以測量鋼鐵上的各種電鍍(鍍鎳除外)、塗層、琺瑯、塑膠等覆蓋層厚度,還可用於測量各種金屬箔(如銅箔、鋁箔、金箔等)和非金屬薄膜(如紙張、塑膠等)的厚度。本儀器可用於生產檢驗、驗收檢驗及質量監督檢驗。符合國家標準。

渦流測厚儀:

是一種小型儀器,採用渦電流測量原理,可以方便無損地測量有色金屬基體上的油漆、塑膠、橡膠等塗層,或者是鋁基體上的陽極氧化膜厚度等。該儀器廣泛套用於機械、汽車、造船、石油、化工、電鍍、噴塑、搪瓷、塑膠等行業。渦流測量原理是高頻交流信號在測頭線圈中產生電磁場,測頭靠近導體時,就在其中形成渦流。測頭離導電基體愈近,則渦流愈大,反射阻抗也愈大。與磁感應測厚儀一樣,渦流測厚儀也達到了解析度0.1um,允許誤差1%,量程10mm的高水平。採用電渦流原理的測厚儀,原則上對所有導電體上的非導電體覆層均可測量,如航天航空器表面、車輛、家電、鋁合金門窗及其它鋁製品表面的漆,塑膠塗層及陽極氧化膜。覆層材料有一定的導電性,通過校準同樣也可測量,但要求兩者的導電率之比至少相差3-5倍(如銅上鍍鉻)。雖然鋼鐵基體亦為導電體,但這類任務還是採用磁性原理測量較為合適。

單用測厚儀:

採用磁性測厚方法,可無損傷地檢測磁性金屬基鐵(如:鐵、鋼、合金和硬磁性鋼等)上非磁性覆層的厚度(如:鋅、鋁、鉻、銅、橡膠、油漆等)。單用測厚儀廣泛地套用於製造業、金屬加工業、化工業、商檢等檢測領域。是材料保護專業必備的儀器。符合GB/T4956-1985磁性金屬基體上非磁性覆層厚度的測量。便攜設計,手掌大小,採用高速的DSP晶片,具有快速的測量能力;天津市精科材料試驗機廠是專業生產油漆、塗料、油墨設備材料試驗機及塗料行業試驗室專用設備的最大型企業。人性化設計,簡單操作。在雙用探頭時自動識別鐵基和非鐵基材質,無需手動轉換,兩種校準方式,零點校準和二點校準,寬角度LCD液晶顯示,公制和英制單位轉換,具有電源欠電壓提示,操作過程有蜂鳴聲提示,具有自動關機功能。

技術參數

測量範圍 0-1250um
工作電源 兩節五號電池
測量精度誤差 零點校準 ±(1.5+3%H);二點校準±(1%~3%)H+1.5
環境溫度 環境溫度0-40℃
相對濕度 ≤85%
最小基體 10*10mm
最小曲率 凸5mm;凹5mm
最薄基體 0.4mm
重量 99克(含電池)
尺寸 102mm*66mm*24mm

選購方法

1、塑膠上的銅、鉻層:建議用庫侖法測厚儀(會破壞鍍層)或X射線測厚儀(無損測量),如銅層在10m~200m可考慮電渦流法測厚儀(無損測量)。
2、金屬件上鍍鋅層:如在鋼鐵基體上應使用經濟的磁感應法測厚儀(無損測量)。其它金屬基體用庫侖法測厚儀(會破壞鍍層)或X射線測厚儀(無損測量)。
3、鐵基體上的電泳漆,油漆應使用經濟的磁感應法測厚儀(無損測量)。其它金屬基體上的電泳漆,油漆應使用經濟的電渦流法測厚儀(無損測量)。
4、乾膜是指己固化了的油漆塗層。
5、鍍鉻層參考2項、1項。
6、車內外飾件噴漆只有用切鍥法(PIG,會破壞塗層),超音波法(無損測量)可測10微米以上塗層,但有時測不到。
7、價格:磁感應法、電渦流法0.6~3萬;庫侖法0.8~6萬;超音波法5.5~6萬;X射線測厚儀25~40萬。

注意事項

在進行測試的時候要注意標準片集體的金屬磁性和表面粗糙度應當與試件相似。
測量時側頭與試樣表面保持垂直。
測量時要注意基體金屬的臨界厚度,如果大於這個厚度測量就不受基體金屬厚度的影響。
測量時要注意試件的曲率對測量的影響。因此在彎曲的試件表面上測量時不可靠的。
測量前要注意周圍其他的電器設備會不會產生磁場,如果會將會干擾磁性測厚法。
測量時要注意不要在內轉角處和靠近試件邊緣處測量,因為一般的測厚儀試件表面形狀的忽然變化很敏感。
在測量時要保持壓力的恆定,否則會影響測量的讀數。
在進行測試的時候要注意儀器測頭和被測試件的要直接接觸,因此超音波測厚儀在進行對側頭清除附著物質。

技術標準

HG/T3240-1987搪瓷測厚儀技術條件
HG/T3240-2007電腦膜層測厚儀
HG/T3241-1989內孔塗層測厚儀技術條件
HG/T3241-2007電腦內孔膜層測厚儀
JJF1126-2004超音波測厚儀校準規範
JJG(輕工)87-1992攜帶型地毯測厚儀檢定規程
JJG403-1986超音波測厚儀
JJG480-1987X射線測厚儀檢定規程
JJG818-1993電渦流式測厚儀(試行)
JJG889-1995磁阻法測厚儀
NJ372-1985輪輞用測厚儀
ZBN13003-1987搪瓷測厚儀技術條件
ZBN77001-1989超聲測厚儀通用技術條件

主要套用

雷射測厚儀是利用雷射的反射原理,根據光切法測量和觀察機械製造中零件加工表面的微觀幾何形狀來測量產品的厚度,是一種非接觸式的動態測量儀器。它可直接輸出數位訊號與工業計算機相連線,並迅速處理數據並輸出偏差值到各種工業設備。

X射線測厚儀利用X射線穿透被測材料時,X射線的強度的變化與材料的厚度相關的特性,滄州歐譜從而測定材料的厚度,是一種非接觸式的動態計量儀器。它以PLC和工業計算機為核心,採集計算數據並輸出目標偏差值給軋機厚度控制系統,達到要求的軋制厚度。主要套用行業:有色金屬的板帶箔加工、冶金行業的板帶加工。

紙張測厚儀:適用於4mm以下的各種薄膜、紙張、紙板以及其他片狀材料厚度的測量。

薄膜測厚儀:用於測定薄膜、薄片等材料的厚度,測量範圍寬、測量精度高,具有數據輸出、任意位置置零、公英制轉換、自動斷電等特點。

塗層測厚儀:用於測量鐵及非鐵金屬基體上塗層的厚度.

超音波測厚儀:超音波測厚儀是根據超音波脈衝反射原理來進行厚度測量的,滄州歐譜當探頭髮射的超音波脈衝通過被測物體到達材料分界面時,脈衝被反射回探頭,通過精確測量超音波在材料中傳播的時間來確定被測材料的厚度。凡能使超音波以一恆定速度在其內部傳播的各種材料均可採用此原理測量。

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