雷射粒度儀

雷射粒度儀

雷射粒度儀採用Furanhofer衍射及Mie散射理論,測試過程不受溫度變化、介質黏度,試樣密度及表面狀態等諸多因素的影響,只要將待測樣品均勻地展現於雷射束中,即可獲得準確的測試結果。

主要參數

測量範圍: 0.15-400 微米
採樣通道: 82道
儀器靈敏度:12位(A/D CONVERT)
相對濕度: 〈80%
電源電壓: 220V±10% 50Hz,推薦使用穩壓電源(1KVA)對儀器供電
雷射器類型: 半導體
雷射器功率: 5mW
雷射器波長: 760nm
雷射器壽命:大於20000小時
測試時間: 單次測試時間小於:60 秒
作業系統 : 中文 Windows95/98/ME/2000/NT/XP
驗收方法: 按Q/AMR001-2002標準驗收. 測試對象
1.各種非金屬粉:如重鈣、輕鈣、滑石粉、高嶺土、石墨、矽灰石、水鎂石、重晶石、雲母粉、膨潤
土、硅藻土、黏土等。
2.各種金屬粉:如鋁粉、鋅粉、鉬粉、鎢粉、鎂粉、銅粉以及稀土金屬粉、合金粉等。
3.其它粉體:如催化劑、水泥、磨料、醫藥、農藥、食品、塗料、染料、螢光粉、河流泥沙、陶瓷原料、各種乳濁液

儀器特點

● 測試範圍寬
由於採用了大尺寸光電探測陣列(70個通道)、側向輔助光電探測陣列(12個通道)及其它相應技術,使 單透鏡 測試範圍達到0.1---450微米;並且由於本儀器使用過程中無須更換鏡頭及調整光學系統,提高了系統的穩定性,簡化了操作過程。
● 採用半導體雷射發生器
具有光參數穩定、效率高、壽命長、不怕振動等一系列優點,克服了傳統氣體雷射器由於自然漏氣,需定期更換的缺點。
● 自動化程度高操作簡單
GSL-101BI型雷射顆粒測量儀採用微機進行實時控制,自動完成數據採集、分析處理、結果保存、列印等功能,操作簡單,自動化程度高。
● 測試迅速由於無須沉降過程,使測試速度大幅度提高,在通常情況下,1分鐘內即可完成一次樣品測試。(注:不包括樣品製備時間)。
● 軟體
本儀器測試程式採用MSVC/C++6.0編制,在中文Windows95/98/ME/2000/NT/XP人機接口界面,操作直觀簡便,通俗易懂。數據輸出內容豐富,並且可以輸出英文測試報告,對於彩色印表機還可以輸出彩色測試報告。
● 採用了獨特的機械攪拌裝置
具有攪拌力矩大、速度快、攪拌均勻等一系列優點。

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