雷射物位計

雷射物位計

雷射物位計是現代詞,是一個專有名詞,指的是雷射雷達料位計由半導體雷射器發射連續或高速脈衝雷射束,雷射束遇到被測物體表面進行反射,光線返回由雷射接收器接收。

測量原理

雷射雷達物位計也稱雷射雷達料位計
由半導體雷射器發射連續或高速脈衝雷射束,雷射束遇到被測物體表面進行

測量原理
反射,光線返回由雷射接收器接收。並精確
記錄精光自發射到接收之間的時間差,從而確定從雷射雷達到被測物之間的距離。
雷射雷達與普通雷達物位計相比,雷射雷達極大的縮短了發射電磁波的波長,提高了發射電磁波的頻率。又利用雷射束不發散的特
點,使得發射波具有近於0 度的發射角,從而不易受到干擾。
距離物料表面的距離D 與脈衝的時間行程T 成正比:
D=C×T/2 其中C 為光速
因空罐的距離E 已知,則物位L 為:
L=E-D
根據用戶設定的量程和滿度信息,處理器計算出當前料位的百分比,
然後按照比例輸出4-20mA 或0-5V 等模擬信號、RS485Modbus的數位訊號、警示報警繼電器開關信號等。
根據測量時間方法的不同,雷射雷達物位計可分為脈衝式和相位式兩種測量形式,

優缺點

優點:

雷射物位計與傳統的超音波、雷達等非接觸式物位計相比較具有以下優點:
測量光束髮散角小、方向性好
量程大、測距遠、盲點最少
不受介質溫度影響。不受溫度變化影響
測量速度快,適合變化快的液位及料位測量
操作簡單,可程式測量
測量精確、高精度適合高要求項目
解析度高出一般儀表十倍
波束角小,適合長距離定位,避免障礙物
光束能夠穿透玻璃窗和通明介質

缺點:

易受測試波段光源干擾
價位高

套用場合

液體:

液態瀝青、
聚合反應堆容器(高壓)、
反應釜(真空)、
熔融態玻璃
黑色及有色金屬、

固體:

合金聚苯乙烯、尼龍、聚氯乙稀等芯塊、
滑石粉或石灰粉、礦石
放礦溜井裡的廢石、濕或乾木屑
狹小彎曲環境的物位

行業:

 採礦,化工,
製藥,造紙,
塑膠,油氣等高風險區域

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