硬體系統控制
1．壓力檢測系統：配置進口壓力感測器
2．壓力檢測精度：讀數精度的0.15%
3．氣路控制系統：採用鎖閉式氣路，減少“漏點”，並套用真空抽氣動態調節技術（I-PID）提高真空泵的工作效率
4．分壓範圍：P/P04×10－7－0.995
5．真空系統:極限真空為4×10－4Pa
6．液位控制系統：自動用於不同溫度的冷卻劑，以保證整個分析過程冷卻劑液面位置相對於被測樣品始終不變，並引入溫差校準技術
7．數據採集系統：高精度24位模數轉換系統，擁有意外斷電數據存儲功能
8．液氮添加系統:維持液氮系統穩定,延長測試時間,以滿足微孔測試需求(可選)
9．多量程壓力探測系統：可提供更多壓力感測器測試位，以滿足孔徑測試需求
數據處理：BET比表面積/Langmuir法比表面積分析/吸附及脫附等溫線/BJH孔體積分析/孔面積分析/總孔容積/總孔面積/t-plot圖法/MP法微孔分析/HK微孔孔徑分布/DR
和粉體比表面儀區別
粉體比表面儀特點
·觸控螢幕/鍵盤控制
·提供組分濃度，粒度區別，產品差異等信息
·從四種特定類型中識別初始分離機制
·多達50個分離測試點
·識別過程設計參數以及質量控制問題
·數據可以Excel形式輸出
·SPECTester比表面測試儀分析速度快-視樣品和套用，10-30分鐘內可完成樣品檢測
超高速比表面儀特點
1.比表面積分析速度快，可在30分鐘內完成8個樣品的多點BET測試
2.擁有t-plot數據模型可進行外比表面積測試
3.可對小比表面積樣品(<1M2/g)進行準確分析，分析精度0.001M2/g
4.配置進口壓力感測器
5.配置獨立8站式樣品製備站（脫氣站）
6.與動態法比表面積分析儀相比，較擁有更低的使用成本和更出色的穩定性
7.符合GB/T19587-2004和ISO9277-1995標準
8.自動化程度高，測試過程無需人員介入
