探針卡

探針卡是一種測試接口,主要對裸芯進行測試,通過連線測試機和晶片,通過傳輸信號,對晶片參數進行測試。

什麼是探針卡(tan zhen ka)?
答:探針卡是一種測試接口,主要對裸芯進行測試,通過連線測試機和晶片,通過傳輸信號,對晶片參數進行測試.
為什麼要用探針卡?
近年來半導體製程技術突飛猛進,超前摩爾定律預估法則好幾年,現階段已向32奈米以下挺進。目前產品講求輕薄短小,IC體積越來越小、功能越來越強、腳數越來越多,為了降低晶片封裝所占的面積與改善IC效能,現階段覆晶(Flip chip)方式封裝普遍被套用於繪圖晶片、晶片組、存儲器及CPU等。上述高階封裝方式單價高昂,如果能在封裝前進行晶片測試,發現有不良品存在晶圓當中,即進行標記,直到後段封裝製程前將這些標記的不良品捨棄,可省下不必要的封裝成本。
 探針卡主要目的:
 是將探針卡上的探針直接與晶片上的焊墊或凸塊直接接觸,引出晶片訊號,再配合周邊測試儀器與軟體控制達到自動化量測的目的。探針卡套用在IC尚未封裝前,針對裸晶系以探針做功能測試,篩選出不良品、再進行之後的封裝工程。因此,它是IC製造中對製造成本影響相當大的重要製程之一.
在中國探針卡領域
呂軍: 畢業於天津師範大學
其在probecard 在中國未來發展的有獨到見解,

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